顯微熔點(diǎn)儀 XR4A
時(shí)間：2012年08月22日
上海光學(xué)儀器研究所 |
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XR4A顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀廣泛應(yīng)用于醫(yī)藥、化工、紡織、橡膠等方面的生產(chǎn)化驗(yàn)、檢驗(yàn)；高等院?；瘜W(xué)系等部門(mén)對(duì)單晶或共晶等有機(jī)物質(zhì)的分析；工程材料和固體物理的研究；觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化等物理變化的過(guò)程提供了有利的熔點(diǎn)測(cè)定裝置。
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